仪器型号：Zscan-System

生产厂家：大连创锐光谱科技有限公司

仪器简介：

基于Z-扫描技术的双光子吸收截面测定系统是一种用于测量材料非线性光学特性的设备，特别是双光子吸收截面。它基于单光束测量，通过改变样品在激光束中的位置（Z轴位置），来改变激光束在样品中的光强分布，从而改变样品的折射率分布。这种折射率分布的改变会导致激光束的聚焦性质发生变化，从而改变激光束在样品后的光强分布。通过测量这种光强分布的变化，就可以得到样品的克尔非线性强度。

仪器参数：

OPA波长范围：330  – 2200 nm；

光谱检测范围：350 – 1800 nm；

功率范围：40 μW – 40 mW；

样品移动范围：105 mm；

位移台速率30 mm/s，最小分辨率0.1 μm；

可开孔闭孔同时测量，配置参比功率测量。